发布人： beat365中国唯一官方网站 发布时间： 星期三, 2015/04/08 - 09:32
主持人：刘 扬 教授
主题介绍：
1. SiC半导体及其应用
2. SiC MOS界面缺陷
3. SiC MOS界面缺陷钝化技术
4. SiC MOS界面缺陷计算
报告人简介：
王德君，大连理工大学教授，博士生导师。吉林大学半导体材料（化学）专业本科、硕士，清华大学材料学博士，先后服务于北京大学、名古屋大学和奈良先端科学技术大学院大学(NAIST)。
研究领域：
1. SiC半导体器件物理与工艺
2. 基于二维材料的半导体传感器
